日本日置電容測試儀HIOKI3506-10基本參數
測量參數 C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ)
測量范圍 C:0.001fF~15.0000μF,D: 0.00001 ~ 1.99999,Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度 (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測量頻率 1kHz, 1MHz
測量信號電平 500mV, 1V rms
輸出電阻 1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示 LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定)
測量時間 1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz
功能 BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
電源 AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 大40VA
體積及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件 電源線× 1, 電源備用保險絲× 1,使用說明書× 1
日本日置電容測試儀HIOKI3506-10測試冶具或電纜
對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
提高了抗干擾性,在產線的上也能實現高反復精度
1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩定測量
根據BIN的測定區分容量
輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網絡連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬件流控制之外的情況下可以使用。
4端子探頭L2000,DC~8MHz,1m長
4端子開爾文夾9140-10,DC~200kH,50 Ω,1 m長
鑷形探頭L2001,線長73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
測試治具9261-10,線長1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測端口直徑:0.3~1.5mm
測試治具9262,DC~8 MHz, 直接連接型
SMD測試治具9263,直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm
SMD測試治具9677,用于側面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699,用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下